ユーザーズセミナー（SEM/TEM/XAFS）を開催します。

2018年8月 8日

電子顕微鏡及びＸ線分光計測装置のユーザーを対象に下記のとおりセミナーを開催いたします。ご興味のある方は是非ご参加ください。

日　時: 平成30年8月8日（水）13:00 ～ 15:30

場　所: 本学教育研究基盤センター3階セミナー室（305室）

対　象：学内教職員・学生及び企業等の技術者・研究者等

参加費：無料：学生、教職員（本学含む大学、工業高校、高専）
　　　　有料：一般（3,000円）

定　員：７０名

内　容：

 講演１「TEM/SEMによる組織・構造解析の基礎と応用」
  教育研究基盤センター　教授　中野裕美
 講演２「放射光を用いた分析方法　-XAFS法の紹介、原理解説、事例等の紹介-」
  名古屋大学シンクロトロン光研究センター　教授　田渕雅夫　氏

申込期限：平成３０年８月３日（金）

申込方法等、詳細はこちらをご覧ください。

主催: 豊橋技術科学大学教育研究基盤センター