ユーザーズセミナー(SEM/TEM/XAFS/XPS)を開催します。
2017年8月 8日
電子顕微鏡及びX線分光計測装置のユーザーを対象に下記のとおりセミナーを開催いたします。
ご興味のある方は是非ご参加ください。
日時: 平成29年8月8日(火)13:00~15:30
場所: 本学教育研究基盤センター 3階セミナー室(305室)
対象: 学内教職員・学生及び企業等の技術者・研究者等
参加費:無料:学生、教職員(本学含む大学、工業高校、高専)
有料:一般
定員: 70名
内容:
13:00~13:05 挨拶
教育研究基盤センター長 滝川浩史
13:05~14:00 講演1
「TEM/SEMによる組織・構造解析の基礎と応用」
教育研究基盤センター 教授 中野裕美
14:05~15:30 講演2
「最新のX線回折法を用いた無機結晶の未知・不規則構造の解析と新材料開発」
名古屋工業大学 教授 福田功一郎 氏
申込期限: 平成29年8月3日(木)
申込方法等、詳細はこちらをご覧ください。
主催: 豊橋技術科学大学教育研究基盤センター