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ユーザーズセミナー(SEM/TEM/XAFS/XPS)を開催します。

2016年8月 8日


ユーザーズセミナー(SEM/TEM/XAFS/XPS)

電子顕微鏡及びX線分光計測装置のユーザーを対象に下記のとおりセミナーを開催いたします。
ご興味のある方は是非ご参加ください。

日時: 平成28年8月8日(月)13:00~15:30

場所: 本学教育研究基盤センター 3階セミナー室(305室)

対象: 学内教職員・学生及び企業等の技術者・研究者等

定員: 70名

内容:
13:00~13:05 挨拶
 教育研究基盤センター長 滝川浩史
13:05~14:00 講演1
 「TEM/SEMによる組織・構造解析の基礎と応用」
 教育研究基盤センター 教授 中野裕美
14:05~15:30 講演2
 「放射光によるX線分光計測(XAFS、XPS)を用いた電子構造解析の基礎と応用」
 立命館大学 総合科学技術研究機構SRセンター 研究教員(准教授) 中西康次 氏

申込期限: 平成28年8月3日(水)

申込方法等、詳細はこちらをご覧ください。

主催: 豊橋技術科学大学教育研究基盤センター

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