ユーザーズセミナー（SEM/TEM/XAFS/XPS）を開催します。

電子顕微鏡及びX線分光計測装置のユーザーを対象に下記のとおりセミナーを開催いたします。
ご興味のある方は是非ご参加ください。

日時: 平成28年8月8日（月）13:00～15:30

場所: 本学教育研究基盤センター 3階セミナー室（305室）

対象: 学内教職員・学生及び企業等の技術者・研究者等

定員: 70名

内容:
13:00～13:05 挨拶
　教育研究基盤センター長　滝川浩史
13:05～14:00 講演1
　「TEM/SEMによる組織・構造解析の基礎と応用」
　教育研究基盤センター 教授 中野裕美
14:05～15:30 講演2
　「放射光によるX線分光計測(XAFS、XPS)を用いた電子構造解析の基礎と応用」
　立命館大学　総合科学技術研究機構SRセンター 研究教員(准教授)　中西康次 氏

申込期限: 平成28年8月3日（水）

申込方法等、詳細はこちらをご覧ください。

主催: 豊橋技術科学大学教育研究基盤センター